Für die Partikelcharakterisierung ist im Bettersizer S3 Plus die Laserbeugung mit der dynamischen Bildanalyse in einem Gerät kombiniert.

Die Kombination beider Technologien ermöglicht ein neues Niveau der Partikelgrößen- und Partikelformanalyse von 10 nm bis 3500 µm:

1. Patentiertes DLOI (Dual Lenses Oblique Incidence) System: Laserbeugung, die auf der Grundlage der Fourier-Technologie entwickelt wurde, um genaue Messungen auch von ultrafeinen Partikeln ab 10 nm zu gewährleisten.

2. Duales Kamerasystem: Dynamische Bildanalyse, jetzt mit verbesserten Kameras, ermöglicht die Visualisierung von Einzelpartikelbildern für morphologische Partikelinformationen, die unabhängig von der Laserbeugung sind. Neben der Partikelgröße können individuelle Formparameter ausgewertet sowie Agglomerate, gebrochene Partikel oder Fremdpartikel leicht erfasst werden.

3. Bahnbrechendes 2-in-1-Kombisystem: Laserbeugung in Kombination mit dynamischer Bildanalyse wird zur gleichzeitigen Charakterisierung der Partikelgröße, der Größenverteilung und der Partikelform über einen breiten Messbereich eingesetzt. Im Kombimodus misst das DLOI-System präzise die Partikelgröße ab 10 nm, während das Kamera-System übergroße Partikel bis zu 3500 µm effizient erkennt und Ergebnisse zur Form liefert.

Die Vorteile der Technologiekombination in einem Gerät werden bei der Analyse breit verteilter Proben deutlich. Das Kamerasystem des Bettersizer S3 Plus kann effektiv statistisch unterrepräsentierte, übergroße Partikel erkennen, die mit der reinen Laserbeugungsanalyse allein nicht detektierbar sind.